※この商品はタブレットなど大きいディスプレイを備えた端末で読むことに適しています。また、文字だけを拡大することや、文字列のハイライト、検索、辞書の参照、引用などの機能が使用できません。 近年のナノテクノロジーは、異なる材料（たとえば半導体材料と生体材料）を融合させて、新しい機能や物性を発見・定式化しようという方向にも進んでいる。そこで重要となるのが、観測対象に応じて新しい構造や機能をナノスケールで正しく計測・評価できる技術や手法である。本書は、数ある計測技術／手法について、電子線を用いる方法、光を用いる方法、原子レベルでの観察を可能とする走査型プローブ顕微鏡法に分けて解説する。単なる計測法の紹介ではなく、その原理や最先端の研究例についても図版を使って説明する。